光學(xué)膜厚儀利用反射干涉的原理進(jìn)行無(wú)損測(cè)量，可測(cè)量薄膜厚度及光學(xué)常數(shù)。測(cè)量精度達(dá)到埃級(jí)的分辯率，測(cè)量迅速，操作簡(jiǎn)單，界面友好，是具性價(jià)比的膜厚測(cè)量?jī)x設(shè)備。設(shè)備光譜測(cè)量范圍從近紅外到紫外線，凡是光滑的，透明或半透明的和所有半導(dǎo)體膜層都可以測(cè)量。
光學(xué)膜厚儀的功能：
●采用了磁性測(cè)厚方法，可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度；
●可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；
●可采用基本校準(zhǔn)修正法對(duì)測(cè)頭系統(tǒng)誤差進(jìn)行更新修正，保證儀器在測(cè)量過(guò)程中的準(zhǔn)確性；
●負(fù)數(shù)顯示功能，保證儀器零位點(diǎn)校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性，提高測(cè)試精度；
●操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；
●兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；
●電池電壓指示：低電壓提示；
●微功耗設(shè)計(jì)，在待機(jī)裝態(tài)不到10微安的電流。
光學(xué)膜厚儀的特點(diǎn)：
A、精美整體式設(shè)計(jì)，攜帶方便；
B、金屬測(cè)頭，牢固，耐磨，更穩(wěn)定；
C、人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，操作舒適，可精準(zhǔn)地放置于光滑、平坦的表面之上；
D、測(cè)試速度快，讀數(shù)準(zhǔn)確；
E、具有連續(xù)測(cè)試和單次測(cè)量?jī)煞N測(cè)量方式；連續(xù)測(cè)試減少人為誤差，讓測(cè)量值更精準(zhǔn)；
F、儀器可存貯116個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)；
G、四個(gè)統(tǒng)計(jì)功能：大小值、平均值、測(cè)量次數(shù)，按下TA鍵即可查閱；
H、可以連接電腦進(jìn)行通信讀出存貯數(shù)據(jù)進(jìn)行保存或打印；
I、兩種校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)；
J、操作過(guò)程有蜂鳴聲提示（單次測(cè)量方式）；
K、自動(dòng)識(shí)別鐵基和非鐵基底材；
L、低電壓指示；
M、手動(dòng)/自動(dòng)關(guān)機(jī)功能；
N、高耐沖擊ABS塑料外殼制成，非常適用于油漆有粉末涂層環(huán)境。
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